TDS-7000 시리즈


회사소개
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계량계측기
오실로스코프
TDS-7000 시리즈
디지털 오실로스코프
8가지 기능: 오실로스코프, 파형 발생기, 멀티미터, FFT 스펙트럼 분석기, 주파수 카운터, 프로토콜 분석, 진폭-주파수 곡선 분석, 터치 스크린

520MHz / 380MHz 오실로스코프 대역폭, 5GSa/s 샘플링 속도

표준 400MB 메모리 용량

600,000 Wfms/s 재생 빈도, 예외적이고 낮은 확률의 이벤트를 쉽게 캡처

고급 함수 계산 기능

표준 50M 단일 채널 임의 파형 발생기

오실로스코프 파형을 캡처, 파형 발생기가 파형을 생성, 회로를 추가로 분석 지원

파형 복제 기능, 캡처된 파형을 빠르게 생성

다양한 트리거 및 버스 디코딩

멀티미터 및 멀티미터 데이터 로거 기능(옵션)

루프 테스트 분석을 위한 표준 보드 플롯

다중 인터페이스 디자인: USB 호스트 및 장치, LAN, VGA; USB 호스트는 표준 SCPI 지원

10.4 인치 멀티 터치 스크린
제품 소개

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사양

 Specifications

모 델TDS-7382TDS-7522TDS-7384TDS-7524
대역폭380MHz520MHz
380MHz
520MHz
샘플링 속도5GS/s
수평 스케일 (s/div)500ps/div - 1000s/div, step by 1 - 2 - 5
채널2CH4CH
디스플레이10.4인치 LCD 터치 스크린
레코드 길이400M
파형 재생률600,000 wfms/s
수직 감도1MΩ :1mV/div~ 10V/div;50Ω : 1mV/div ~ 1V/div
수직 해상도(A/D)8bits
입력 임피던스1MΩ±2%,in parallel with 15pF±5pF;50Ω ± 2%
입력 커플링DC, AC, Ground
트리거 유형Edge, Video, Pulse, Slope, Runt, Windows, Timeout, Nth Edge, Logic, I2C, SPI, RS232, CAN
디코딩 유형 (옵션)RS232, I2C, SPI, CAN
자동 측정Period, Frequency, Mean, PK-PK, RMS, Max, Min, Top, Base, Amplitude, Overshoot, Preshoot, Rise Time, Fall Time, +Pulse Width, -Pulse Width, +Duty Cycle, -Duty Cycle, Delay A→B↑, Delay A→B↓, Cycle RMS, Cursor RMS, Screen Duty, FRR、FRF、FFR、FFF、LRR、LRF、LFR、LFF、Phase A→B↑, Phase A→B↓, +Pulse Count, -Pulse Count, Rise Edge Count, Fall Edge Count, Area, and Cycle Area.
파형 연산

+, -, *, / ,FFT, FFTrms, Intg, Diff, Sqrt, User Defined Function, digital filter (low pass, high pass, band pass, band reject)

파형 저장100 waveforms
통신 인터페이스

USB Host, USB Device; Trig Out(Pass/Fail); LAN port; VGA port; EXT Trig In

프린터 호환성PictBridge
크기422(W) × 226(H) × 135(D) mm
무게약 5kg
Arb 파형 발생기 사양
최대 주파수 출력
50MHz
샘플링 속도
250MS/s
채널
1CH
수직 해상도
14 bits
진폭 범위
2mVpp - 5Vpp(≤50MHz); 2mVpp - 20Vpp(≤25MHz)
파형 길이
16K
파형 출력
Sine, Square, Pulse, Ramp, Exponential Rise, Exponential Fall, Sin(x)/x, Step Wave, Noise,and others, total 64 built-in waveforms, and user-defined arbitrary waveform
멀티미터 사양 (옵션)
Full Scale Reading
4½ digits
Auto Range

측정Voltage, Current, Capacitance, Resistance, Frequency, Duty cycle, Continuity, Diode test